高h浪🚩荡文辣文神奇宝贝㊙️ 手機環境與可靠性測試,全部在這裏了--深圳市保定全庆航空航天有限公司(3G网站)
當前位置 : 網(wǎng)站首頁 >> 新聞資訊 >> 經驗分(fèn)享

手機環境與(yu)可靠性測試,高h浪荡文辣🚩文神奇宝贝㊙️全(quan)部在這裏了

  爲了提升手(shou)機産品可靠性(xing)能力,各個企業(yè)投入了巨大的(de)努力,從産品設(shè)計開發到生産(chan)各個環節,都在(zai)緻力于提高💯産(chan)品可靠性。

 

  了解了産品的(de)一般結構之後(hou),在開始結構設(shè)計之前,需🔞要清(qing)㊙️楚地知道産品(pin)要達到上市的(de)要求需要通過(guo)🤞哪些測試,達到(dào)什麽樣的标準(zhun)。

 

  産品可靠(kào)性測試 (PRT) 的(de)目的是在特定(dìng)的可接受的環(huán)境下不斷的催(cui)化産品的壽❌命(ming)和疲勞度,可以(yi)在早期預測和(hé)評估産品的質(zhi)量和可靠性。産(chǎn)品結構設計工(gōng)程師必須通曉(xiǎo)可靠💃性測試的(de)所有标準,在設(shè)計階段就必須(xū)采取正确的設(she)計和選擇合适(shi)的材料來避🔴免(miǎn)後續産品的質(zhì)量和可 靠(kao)性問題。産品必(bì)須經過國家的(de)可靠性測試,而(er)且📧越🔞來越🛀🏻嚴格(gé),要求也越來越(yue)高,這就對我們(men)的設計提出了(le)更高的❄️要求。


  首先了解一(yi)下可靠性影響(xiǎng)因素 , 影響(xiǎng)産品可靠性的(de)極其重要的因(yīn)素是環境。

 

  環境因素多種(zhong)多樣:溫度、濕度(du)、壓力、輻射、降雨(yǔ)、風、雷、電、鹽霧、砂(shā)塵、振動、沖擊、噪(zao)聲、電磁輻射等(deng),都不可避免地(di)對電子産品産(chan)生不良影響。有(you)資料顯示,電子(zi)産品故障的 52% 失效是由環(huán)境效應引起:其(qi)中由溫度引起(qi)的占 40% ,由振(zhen)動引起的占 27% ,由濕度引起(qǐ)的占 19% ,其餘(yú) 14% 是砂塵、鹽(yan)霧等因素引發(fa)的故障。環境試(shì)驗作爲可😍靠性(xing)試驗的一種類(lei)型已經發展成(chéng)爲一種預測産(chǎn)品使用環境是(shi)如何🈲影響☂️産品(pin)的性能和功能(neng)的方法。

 

  在(zai)手機投入市場(chǎng)之前,環境試驗(yàn)被用來評估環(huan)境影🐇響㊙️手機的(de)程度,當手機的(de)功能受到了影(ying)響,環境試驗被(bèi)用來查明原因(yīn),并采取措施保(bao)護手機免受📧環(huán)境影💔響以保㊙️護(hu)手機的可靠性(xìng),環境🌈試驗也被(bèi)用來分析手機(ji)在實際使用過(guò)程中出現的缺(que)陷以及新産品(pǐn)的改💞進。


  嚴格意義上(shàng)講,隻有通過了(le)環境适應性試(shì)驗,滿足✨規🙇‍♀️定的(de)條件,才能進行(hang)可靠性試驗,環(huán)境适應性試♋驗(yan)對于保證手🈲機(jī)的可靠性是非(fēi)常有效的。 手機環境與可(ke)靠性測試包括(kuò)六個部分:加速(sù)壽命測試、氣候(hòu)适應測試、結構(gou)耐久測試、表面(miàn)裝飾測試🤟、特殊(shū)條件🥰測試,及其(qí)他條件測試。  


1.1. 加速壽命測(ce)試 ALT (AcceleratedLife Test)
  樣機标(biāo)準數量: PR1 8 PR2 10 PR3 10 台(tai) PIR 10
  試驗周期: 12-07
  測試(shì)目的: 通過(guo)連續的施加各(gè)種測試條件,加(jia)速産品的失效(xiao),提前暴露潛🏃‍♀️在(zài)問題。
  試驗(yàn)流程: 其中(zhong) Thermal Shock 1st Drop 測(cè)試的時間間隔(gé)應不超過 4 小時 ;Temp/Humidity 2nd Drop 測試的時間(jiān)間隔應不超過(guò) 4 小時。每項(xiàng)測試完成都應(yīng)進行表面,外觀(guān),結構和功能檢(jian)查🐪。
  測試标(biāo)準:參數指标正(zheng)常,功能正常。
 
1.1.1 室溫下參數(shu)測試 (ParametricTest)
  測試(shì)環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目的(de): 測試預檢(jian)查
  測試方(fāng)法:使用 8960/8922 測(cè)試儀,對所有樣(yàng)品進行參數指(zhi)标預測試并保(bǎo)存測試♌結果㊙️。
  測試标準:參(cān)數指标正常,功(gong)能正常。
 
1.1.2 溫(wēn)度沖擊測試 (Thermal Shock)
  測試環境:低(di)溫箱: -30 ° C ; 高溫箱: +10 ° C
  測試目的:通(tong)過高低溫沖擊(ji)進行樣品應力(lì)篩選
  試驗(yan)方法:使用高低(di)溫沖擊箱,手機(jī)帶電池,設置成(chéng)關機狀♈态先放(fàng)置于高溫箱内(nei)持續 45 分鍾(zhōng)後,在 15 秒内(nei)迅速移入低溫(wēn)箱并持續 45 分鍾後,再 15 秒内迅速回到(dao)高溫箱。此爲一(yī)個循環,共循環(huán) 21 次。實驗結(jie)束後将樣機從(cóng)溫度沖擊箱 ( 高溫箱 ) 中取出,恢複 2 小時後進行(hang)外 觀、機械(xie)和電性能檢查(cha)。對于翻蓋手機(ji),應将一半樣品(pǐn)💁打開翻🐅蓋 ; 對于滑蓋手機(ji),應将一半樣品(pin)滑開到上限位(wei)置。
  試驗标(biāo)準:手機表面噴(pen)塗無異變,結構(gou)無異常,功能正(zhèng)常,可正常撥打(dǎ)電話。
 
1.1.3 跌落(luò)試驗 (Drop Test)
  測試(shi)條件: 1.5m 高度(du), 20mm 厚大理石(shi)地闆。 ( 對于(yu) PDA 手機 , 根據所屬公司(si)質量部門的建(jiàn)議可調整爲跌(die)落高度爲 1.3m)
  測試目的: 跌落沖擊試驗(yan)
  試驗方法(fa):将手機處于開(kāi)機狀态進行跌(diē)落。對于直🚶握手(shou)機,進行 6 個(gè)面的自由跌落(luo)實驗,每個面的(de)跌落次數爲 1 次,每個面跌(diē)落之後進行外(wai)觀、結構和功能(neng)檢查。對💃🏻于翻蓋(gai)手機,進行 8 個面的自由跌(die)落實驗 ; 其(qi)中一半樣品合(hé)上翻蓋按直握(wo)手機的方法進(jin)行跌落☔,另一半(bàn)樣 品在跌(die)正面和背面時(shí)須打開翻蓋 ; 對于滑蓋手(shou)機,應将一半樣(yàng)品滑開到上限(xiàn)位置。跌落結束(shù)後對外觀、結構(gòu)和功能進行檢(jian)查。
  試驗标(biāo)準:手機外觀,結(jie)構和功能符合(he)要求。
 
1.1.4 振動(dong)試驗 (Vibration Test)
  測試(shì)條件:振幅: 0.38mm/ 振頻: 10~30Hz; 振幅(fú): 0.19mm/ 振頻: 30~55Hz;
  測試目的: 測試樣機抗振(zhèn)性能
  試驗(yan)方法:将手機開(kāi)機放入振動箱(xiang)内固定夾緊。啓(qi)🍓動振動台按 X Y Z 三(san)個軸向分别振(zhen)動 1 個小時(shí),每個軸振完之(zhi)後取出進行外(wài)觀、結構和功能(néng)檢查。三🏃🏻‍♂️個軸向(xiang)振動試驗結束(shù)後,對樣機進行(hang)參數測😍試。
  試驗标準:振動(dòng)後手機内存和(he)設置沒有丢失(shī)現象🌍,手機外觀(guan),結❗構和功能符(fú)合要求,參數測(ce)試正常,晃動無(wu)異響。
 
1.1.5 濕熱(re)試驗 (Humidity Test)
  測試(shi)環境: 60 ° C 95%RH
  測試目的(de): 測試樣機(ji)耐高溫高濕性(xing)能
  試驗方(fāng)法:将手機處于(yú)關機狀态,放入(ru)溫濕度實驗箱(xiāng)内🈲的架子上,持(chi)續 60 個小時(shi)之後取出,常溫(wēn)恢複 2 小時(shi),然後進行外觀(guan)、結構和功能檢(jian)查。對于翻蓋手(shou)機🈲,應将一半樣(yang)品合上翻蓋,一(yi)半樣品打開翻(fān)蓋 ; 對于滑(hua)蓋手機,應将一(yi)半樣品滑開到(dào)上限位置。
  試驗标準:手機(jī)外觀,結構和功(gong)能符合要求。
 
1.1.6 靜電測試 (ESD)
  測試條件: +/-4kV~+/-8kV
  測試目(mù)的: 測試樣(yang)機抗靜電幹擾(rǎo)性能
  試驗(yan)方法:
  将樣(yàng)機設置爲開機(jī)狀态,檢查樣機(ji)内存和功能。 ( 内存 10 條(tiáo)短信息和 10 個電話号碼 ; 使用功能正(zhèng)常 ) 。将樣機(ji)放于靜電測試(shì)台的絕緣墊上(shang),并且用充電器(qì)加電使手機處(chu)于充電狀态 ( 樣機與絕緣(yuan)墊邊緣距離至(zhì)少 2 英寸 ; 兩個樣機之(zhi)間的距離也是(shì)至少 2 英寸(cùn) ) 打開(kai)靜電模拟器,調(diào)節放電方式,分(fèn)别選擇 +/-4kV( 接(jie)觸放電 ) ~+/-8kV( 空氣放電 ) ,對手機指定(dìng)部位連續放電(dian) 10 次,并對地(di)放電。每做完一(yī)個部位的測試(shi),檢查手機功能(néng)㊙️、信号和靈敏度(dù),并觀察手機在(zai)測試過程中有(you)無死機,通信鏈(lian)路中斷, LCD 顯(xian)示異常,自動關(guan)機 及其他(ta)異常現象。
  樣機需在與 8922 測試儀建立(li)起呼叫連接的(de)狀态下進行各(ge)個放電方式、級(jí)别和極性的測(cè)試。
  試驗标(biāo)準:在 +/-4Kv +/-8Kv 時出現任何(he)問題都要被計(jì)爲故障。
  備(bei)注:靜電釋放位(wei)置的确定要依(yi)據産品的具體(tǐ)情☂️況✊進💃行定義(yì)🐪。  

1.2. 氣候适應(ying)性測試 (ClimaticStress Test)
  樣(yàng)品标準數量:一(yi)般氣候性測試(shì) 4 ; 惡(e)劣氣候性測試(shi) 2 台。共 8 台。
  測試周(zhōu)期: 1 天。
  測試目的: 模拟實際工作(zuò)環境對産品進(jìn)行性能測試
  一般氣候性(xing)測試 惡劣(lie)氣候性測試
 
A 一般氣(qi)候性測試:
1.2.1. 高溫 / 低溫(wēn)參數測試 (ParametricTest)
  測試環境: -10 ° C /+55 ° C
  測試(shi)目的:高溫 / 低溫應用性性(xìng)能測試
  試(shi)驗方法:将手機(jī)電池充滿電,手(shǒu)機處于開機狀(zhuang)态,放入溫度⛷️實(shi)驗箱内的架子(zǐ)上,調節溫度控(kòng)制器到 -10 ° C /+55 ° C 。持續 2 個小時之後(hòu)在此環境下進(jìn)行電性能參數(shù)和功能檢查。對(duì)于翻蓋手機,應(yīng)将一半樣品合(hé)上翻蓋,一半樣(yang)品🌈打開👣翻蓋 ; 對于滑蓋手(shou)機,應将一半樣(yang)品滑開到上限(xiàn)位置。
  試驗(yan)标準:手機電性(xìng)能參數指标滿(man)足要求,功能正(zheng)✍️常,外殼無‼️變形(xing)。
  測試環境(jìng): +45 ° C 95%RH
  測試目的:高溫(wen)高濕應用性性(xing)能測試
  試(shì)驗方法:将手機(jī)電池充滿電,手(shou)機處于開機狀(zhuang)态,放入溫度實(shí)驗箱内的架子(zi)上。持續 48 個(gè)小時之後,然後(hòu)在此環境下進(jìn)行電性能檢查(chá),檢查項🈲目見附(fù)表 1 。對于翻(fan)蓋手機,應将一(yi)半樣品合上翻(fān)蓋,一半樣品📧打(dǎ)開翻🈲蓋 ; 對(duì)于滑蓋手機,應(ying)将一半樣品滑(huá)開到上限位置(zhi)。
  試驗标準(zhǔn):手機電性能指(zhǐ)标滿足要求,功(gong)能正常,外🍉殼無(wu)變形。
 
1.2.3. 高溫(wen) / 低溫功能(neng)測試 (FunctionalTest)
  測試(shi)環境: -40 ° C /+10 ° C
  測試目的(de):高溫 / 低溫(wēn)應用性功能測(ce)試
  試驗方(fang)法:将手機處于(yu)關機狀态,放入(rù)溫度實驗箱内(nèi)的架子上。持續(xu) 24 個小時之(zhi)後,取出,并放置(zhi) 2 小時,恢複(fú)至常溫,然後進(jìn)行結構,功能和(he)電性能檢查。對(duì)🤩于翻蓋手機,應(ying)将一半樣品合(hé)上翻蓋,一半樣(yàng)品打開翻蓋 ; 對于滑蓋手(shǒu)機,應将一半樣(yàng)品滑開到上限(xiàn)位置。
  試驗(yan)标準:手機電性(xing)能指标滿足要(yào)求,功能正常,外(wai)殼無變形。
 
B :惡劣氣候性測(cè)試
1.2.4. 灰塵測(cè)試 (Dust Test)
  測試環(huán)境:室溫
  測(cè)試目的:測試樣(yang)機結構密閉性(xing)
  試驗方法(fǎ):将手機關機放(fàng)入灰塵實驗箱(xiāng)内。灰塵大小 300 目,持續 3 個小時之後,将(jiāng)手機從實驗箱(xiāng)中取出,用棉布(bù)和離🙇🏻子風⁉️槍清(qīng)潔❓後進行檢查(chá)。對于翻蓋手機(ji),應将一半樣品(pin)合上翻蓋‼️,一半(ban)❄️樣品打開翻蓋(gai) ; 對于滑蓋(gài)手機,應将一半(bàn)樣品滑開到上(shang)限位置。
  試(shi)驗标準:手機各(gè)項功能正常,所(suo)有活動元器件(jian)運轉自如,顯示(shi)區域沒有明顯(xian)灰塵。
 
1.2.5. 鹽霧(wù)測試 (Salt fog Test)
  測試(shì)環境: 35 ° C
  測試目的:測試(shì)樣機抗鹽霧腐(fǔ)蝕能力
  試(shì)驗方法:
  溶(róng)液含量: 5% 的(de)氯化鈉溶液。
  将手機關機(jī)放在鹽霧試驗(yan)箱内,合上翻蓋(gai),樣機用繩子懸(xuán)🌐挂☂️起來,以免溶(róng)液噴灑不均或(huo)有的表面噴🥵不(bú)到。
  樣機需(xū)要立即被放入(ru)測試箱。實驗周(zhou)期是 48 個小(xiǎo)時。實驗過程中(zhōng)樣機不得被中(zhōng)途取出,如果急(jí)需⛷️取出測試,要(yào)嚴格記錄測試(shi)時間,該實驗需(xū)向後延遲相同(tong)🧑🏾‍🤝‍🧑🏼時間。
  取出(chu)樣機後,用棉布(bu)和離子風槍清(qing)潔,放置 48 小(xiao)時進行常溫幹(gàn)燥後,對其進行(háng)外觀、機械和電(dian)性能檢查。
  試驗标準:手機(jī)各項功能正常(chang),外殼表面及裝(zhuāng)飾件無明顯腐(fǔ)蝕等異常現象(xiàng)。
 
1.3. 結構耐久(jiǔ)測試 (MechanicalEndurance Test)
  樣品(pǐn)标準數量: 11 台。
  測試周(zhou)期: 1 天。
  測試流程:
  測試标準:
 
1.3.1. 按鍵測試 (Keypad Test)
  測試環境:室溫(wen) (20~25 ° C);
  測試(shì)目的:按鍵壽命(mìng)測試
  測試(shì)數量: 2 台手(shǒu)機。
  測試方(fāng)法:将手機設置(zhì)成關機狀态固(gu)定在測試夾具(jù)上,導航鍵及其(qí)他任意鍵進行(hang) 10 萬次按壓(yā)按鍵測試。進行(hang)到 3 萬次、 5 萬次、 8 萬(wan)次、 10 萬次時(shi)各檢查手機按(an)鍵彈性及功能(neng)一次。實驗中被(bei)🈲測試的鍵的選(xuan)擇根據不同機(ji)型進行确定并(bing)參考工程師的(de)建🛀議,應♈盡量不(bu)重複,盡可能多(duo)。
  試驗标準(zhǔn):手機按鍵彈性(xìng)及功能正常。
 
1.3.2. 側鍵測試 (Side Key Test)
  測試環境:室(shì)溫 (20~25 ° C);
  測(ce)試目的:側鍵壽(shòu)命測試
  測(cè)試數量: 1 台(tái)手機
  測試(shi)方法:将手機設(she)置成關機狀态(tài)固定在測試夾(jiá)📞具上⭐,對側鍵進(jìn)行 10 萬次按(an)壓按鍵測試。進(jin)行到 3 萬次(cì)、 5 萬次、 8 萬次、 10 萬次(ci)時各檢查手機(jī)按鍵彈性及功(gong)能一次。
  試(shi)驗标準:手機按(an)鍵彈性及功能(néng)正常。
 
1.3.3. 翻蓋(gai)測試 (Flip Life Test)
  測試(shi)環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目的(de):翻蓋壽命測試(shì)
  測試數量(liang): 4 台手機。
  測試方法:将(jiāng)手機設置成開(kāi)機狀态,固定在(zai)測試夾具上,進(jìn)行 5 萬次開(kāi)合翻蓋測試。進(jin)行到 3 萬次(ci)、 4 萬次、 4. 5 萬次 5 萬次時進行手(shǒu)機翻蓋彈性及(jí)功能一次。
  試驗标準: 5 萬次後,手機外(wai)觀,結構,及功能(néng)正常。
 
1.3.4. 滑蓋(gai)測試 (Slide LifeTest)
  測試(shì)環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目的(de):滑蓋壽命測試(shì)
  測試數量(liàng): 4 台手機。
  測試方法:将(jiāng)手機設置成開(kāi)機狀态,固定在(zai)測試夾具上,進(jin)🛀行 5 萬次滑(huá)蓋測試。進行到(dào) 3 萬次、 4 萬次、 4. 5 萬次(cì) 5 萬次(cì)時進行手機滑(hua)蓋手感及功能(néng)一次。
  試驗(yan)标準: 5 萬次(cì)後,手機外觀,結(jie)構,及功能正常(cháng) , 滑蓋不能(neng)有松動 ( 建(jian)議 : 垂直手(shou)機時不能有自(zì)動下滑的現象(xiàng) )
 
1.3.5. 重複跌落(luò)測試 (Micro-DropTest)
  測試(shì)環境:室溫 (20~25 ° C);1cm 高度 ,20mmPVC
  測試目(mù)的:樣機跌落疲(pí)勞測試
  測(ce)試數量: 2 台(tái)。
  測試方法(fǎ):手機處于開機(jī)狀态,做手機正(zhèng)面及背面的重(zhòng)複跌落實驗,每(měi)個面的跌落次(cì)數爲 20,000 次。進(jin)行到 1 萬次(cì)、 1.5 萬次、 1.8 萬次、 2 萬次(cì)時各檢查對手(shou)機進行外觀、機(jī)械和電性能的(de)中間檢查。
  測試标準:手機(ji)各項功能正常(chang),外殼無變形、破(po)裂、掉漆,顯示屏(píng)無破碎,晃動無(wu)異響。
 
1.3.6. 充電(diàn)器插拔測試 (Charger Test)
  測試環境:室(shi)溫 (20~25 ° C);
  測(ce)試目的:充電器(qì)插拔 ] 壽命(ming)測試
  測試(shi)數量: 2 台手(shou)機。
  試驗方(fāng)法:将充電器接(jie)上電源,連接手(shǒu)機充電接口,等(děng)待手機👌至充電(dian)界面顯示正常(cháng)後,拔除充電插(chā)頭。在開機不插(chā)卡狀态下插🆚拔(ba)充電 3000 次。進(jìn)行到 2000 次、 2500 次和 3000 次(cì)時進行中間 / 結束檢查一(yī)次。
  檢驗标(biāo)準: I/O 接口無(wu)損壞,焊盤無脫(tuo)落,充電功能正(zhèng)常。無異常手感(gan)。
 
1.3.7. 筆插拔測(ce)試 (Stylus Test)
  測試環(huan)境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目的:手(shou)機手寫筆插拔(ba)壽命測試
  測試數量: 2 台手機。
  試(shì)驗方法:将手機(ji)處于開機狀态(tai),筆插在手機筆(bi)插孔内,然後拔(ba)出,反複 20 000 次。進行到 1 萬次、 1 萬(wàn) 5 千次、 1 8 千次、 2 萬次時檢查(chá)手機筆插入拔(ba)出結構功能、外(wài)殼及筆是否正(zhèng)常。
  檢驗标(biao)準:手機筆輸入(rù)功能正常,插入(rù)拔出結構功🥵能(neng)、外殼及筆均正(zheng)常。
 
1.3.8 點擊試(shi)驗 (PointActivation Life Test)
  試驗條(tiao)件:觸摸屏測試(shì)儀 ( 接觸墊(nian)尖端半徑爲 3.15mm; 硬度爲 40deg 的矽樹脂橡膠(jiao) )
  測試目的(de):觸摸屏點擊壽(shou)命測試
  樣(yàng)品數量: 1 台(tai)
  試驗方法(fǎ):将手機設置爲(wei)開機狀态,點擊(ji) LCD 的中心位(wèi)置 250,000 次,點擊(ji)力度爲 250g; 點(dian)擊速度: 2 次(ci) / ;
  檢(jiǎn)驗标準:不應出(chū)現電性能不良(liáng)現象 ; 表面(mian)不應有損傷
 
1.3.9 劃線試驗 (Lineation LifeTest)
  試驗條件:觸(chù)摸屏測試儀,直(zhí)徑爲 0.8mm 的塑(su)料手寫筆或随(suí)機附帶的手寫(xie)筆
  測試目(mù)的:觸摸屏劃線(xiàn)疲勞測試
  樣品數量: 1
  試驗方(fāng)法:将手機設置(zhì)爲關機狀态,在(zai)同一位置劃線(xiàn)至少 100,000 次,力(li)度爲 250g;
  滑行(hang)速度: 60mm/
  檢驗标準:不(bú)應出現電性能(neng)不良現象 ; 表面不應有損(sǔn)傷
 
1.3.10. 電池 / 電池蓋拆裝(zhuāng)測試 (Battery/BatteryCover Test)
  測試(shi)環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目的(de):電池 / 電池(chí)蓋拆裝壽命測(cè)試
  測試數(shù)量: 2 台。
  試驗方法:将電(dian)池 / 電池蓋(gai)反複拆裝 2000 次。進行到 1500 次、 1800 次和 2000 次時檢查手(shǒu)機及電池 / 電池蓋各項功(gong)能、及外觀是否(fou)正常。
  檢驗(yan)标準:手機及電(diàn)池卡扣功能正(zhèng)常無變形,電池(chi)觸片、電池連接(jie)器應無下陷、變(biàn)形及磨損的現(xiàn)象,外觀無異常(chang)🌈。
 
1.3.11. SIM Card 拆裝測試(shi) (SIM Card Test)
  測試環境(jìng):室溫 (20~25 ° C);
  測試目的: SIM 卡拆裝壽命測(ce)試
  測試數(shu)量: 2 台手機(ji)。
  試驗方法(fa):插上 SIM 卡,然(rán)後取下 SIM 卡(ka),再重新裝上,反(fǎn)複 1000 次,每插(chā)拔 100 次檢查(chá)開機是否正常(chang),讀卡信息正常(chang)。
  檢驗标準(zhǔn): SIM 卡觸片、 SIM 卡推扭開關(guān)正常,手機讀卡(kǎ)功能使用正常(cháng)。
 
1.3.12. 耳機插拔(ba)測試 (Headset Test)
  測試(shi)環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目的(de):耳機插拔壽命(ming)測試
  測試(shi)數量: 2 台手(shou)機。
  試驗方(fang)法:将手機處于(yú)開機狀态,耳機(ji)插在耳機插孔(kong)内,然後拔出,反(fǎn)複 3000 次。進行(háng)到 2000 2500 次(cì)和 3000 次時各(ge)檢查一次。
  檢驗标準:實驗(yàn)後檢查耳機插(chā)座無焊接故障(zhàng),耳機插頭無損(sǔn)傷,使用耳機通(tōng)話接收與送話(huà)無雜音 ( 通(tōng)話過程中轉動(dòng)耳機插頭 ) ,耳機插入手機(jī)耳機插孔時不(bú)會松動 ( 可(ke)以承受得住手(shou)機本身的重量(liàng) )
 
1.3.13. 導線(xiàn)連接強度試驗(yàn) (Cable PullingEndurance Test--Draft)
  測試環境(jìng):室溫 (20~25 ° C);
  測試目的:導線(xian)連接強度測試(shi)
  實驗方法(fǎ):選取靠近耳塞(sāi)的一段導線,将(jiāng)其兩端固定在(zài)💁實驗機上,用 10N ± 1N 的力度(dù)持續拉伸 6 秒,循環 100 次(ci)。 ( 其它造型(xíng)的導線可采納(na)工程師的建議(yi)來确定循環次(cì)數 )
  檢驗标(biao)準:導線功能正(zheng)常。被覆外皮不(bú)破裂,變形。
 
1.3.14. 導線折彎強度(du)試驗 (Cable BendingEndurance Test--Draft)
  測試(shi)環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目的(de):導線折彎疲勞(láo)測試
  實驗(yàn)方法:分别選取(qu)靠近耳塞和靠(kào)近插頭的一段(duan)導💰線,将導線的(de)兩端固定在實(shí)驗機上,做 0mm~25mm 做折彎實驗 3000 次。 ( 其它(ta)造型的導線可(kě)采納工程師的(de)建議來确定循(xun)環次數✏️ )
  檢(jian)驗标準:導線功(gong)能正常被覆外(wài)皮不破裂,變形(xing)。
 
1.3.15. 導線擺動(dong)疲勞試驗 (Cable SwingEndurance Test--Draft)
  測試環境:室溫(wen) (20~25 ° C);
  測試(shì)目的:導線擺動(dong)疲勞測試
  實驗方法 : 分别将耳機和(he)插頭固定在實(shi)驗機上,用 1N 的力, 180 °的角度反複(fu)擺動耳機末端(duan) 3000 次。 ( 其(qí)它造型的導線(xiàn)可采納工程師(shī)的建議來确定(ding)循環次數 )
  檢驗标準:導線(xian)功能正常被覆(fù)外皮不破裂。
 
1.4 表面裝飾測(cè)試 (DecorativeSurface Test)
  測試周(zhōu)期: 4 天。
  樣品标準數量(liang):每種顔色 6 套外殼。
  測(ce)試流程:
 
1.4.1. 磨(mó)擦測試 (Abrasion Test -RCA)
  測(cè)試環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目(mu)的:印刷 / 噴(pēn)塗抗摩擦測試(shi)
  試驗方法(fǎ):将最終噴樣品(pin)塗固定在 RCA 試驗機上,用 115g 力隊同一點(dian)進行摩擦試驗(yan)。每隔 50 次檢(jiǎn)查樣品的表面(mian)噴塗。對于表面(mian)摩擦 300cycles ,側棱(léng)摩擦 150 Cycles 。特殊(shu)形狀的手機摩(mo)擦點的确定由(you)測試工程師和(hé)設🆚計工程師🧑🏽‍🤝‍🧑🏻共(gòng)同确定。
  檢(jiǎn)驗标準:耐磨點(diǎn)塗層不能脫落(luo),不可露出底材(cái)質地 ( 對于(yú)噴塗、電鍍、 IMD); 圖案或字體不(bú)能缺損、不清晰(xi) ( 對于絲印(yin)、按鍵 )
 
1.4.2. 附着力測試 (CoatingAdhesion Test)
  測試環境:室(shi)溫 (20~25 ° C);
  測(ce)試目的:噴塗附(fù)着力測試
  試驗方法:選最(zuì)終噴塗的手機(ji)外殼表面,使用(yong)百格刀刻出 100 1 平方(fāng)毫米的方格,劃(hua)格的深度以露(lu)出底材爲止,再(zài)用☀️ 3M610 号膠帶(dài)紙用力粘貼在(zai)方格面, 1 分(fèn)鍾後迅速以 90 度的角度撕(sī)脫 3 次,檢查(chá)方格面油漆是(shì)否有脫落。
  檢驗标準:方格(gé)面油漆脫落應(ying)小于 3% ,并且(qie)沒有滿格脫落(luò)。
 
1.4.3. 汗液測試(shi) (PerspirationTest)
  測試環境(jìng): 60 oC 95%RH
  測試(shì)目的:表面抗汗(han)液腐蝕能力
  試驗方法:把(bǎ)濾紙放于酸性(xing) (PH=2.6) 溶液充分(fèn)浸透,用膠帶将(jiang)浸有酸性溶液(ye)的濾紙粘在樣(yàng)品噴漆表面,确(que)保試紙與樣品(pǐn)噴漆表面充分(fen)接觸,然後放在(zai)測試♋環境中,在(zai) 24 小時檢查(cha)一次, 48 小時(shi)後,将樣品從測(cè)試環境中取出(chu),并且放置 2 小時後,檢查樣(yàng)品表面噴漆。
  檢驗标準:噴(pen)漆表面無變色(sè)、起皮、脫落、褪色(se)等異常。
 
1.4.4. 硬(ying)度測試 (Hardness Test)
  測(ce)試環境:室溫 (20~25 ° C);
  測試目(mù)的:表面噴塗硬(yìng)度測試
  試(shi)驗方法:用 2H 鉛筆,在 45 度(du)角下,以 1Kg 的(de)力度在樣品表(biǎo)面從不同的方(fang)向劃出 3~5cm 長(zhǎng)的線條 3~5 條(tiao)。
  檢驗标準(zhun):用橡皮擦去鉛(qiān)筆痕迹後,在油(you)漆表面應不留(liú)🧡下劃痕。
 
1.4.5. 鏡(jìng)面摩擦測試 (Lens ScratchTest)
  測試環境 : 室溫 (20~25 ° C);
  測試目的:鏡(jing)面抗劃傷測試(shì)
  試驗方法(fǎ):用 Scratch Tester 将實驗(yàn)樣品固定在實(shi)驗機上,用載重(zhòng) (load) 500g 的(de)力在樣品表面(mian)往複劃傷 50 次。
  檢驗标(biao)準:鏡面表面劃(huà)傷寬度應不大(da)于 100 μ m( 依(yi)靠目視分辨、參(can)照缺陷限度樣(yàng)闆 )
 
1.4.6 紫外線(xiàn)照射測試 (UV illuminantTest)
  測試環境: 50 ° C
  測試目的(de):噴塗抗紫外線(xiàn)照射測試
  試驗方法:在溫(wen)度爲 50 ° C ,紫外線爲 340W/mm2 的光線下直射(she)油漆表面 48 小時。試驗結束(shù)後将手機外殼(ke)取出,在常溫下(xià)冷卻 2 小時(shi)後檢查噴漆表(biao)面。
  檢驗标(biao)準:油漆表面應(yīng)無褪色,變色,紋(wén)路,開裂,剝落等(deng)現🛀象。
 
1.5.1. 低溫(wēn)跌落試驗 (Low temperatureDrop Test)
  測試環境: -10 ° C
  樣機數量(liang) : 3
  測(ce)試目的:樣機低(dī)溫跌落測試
  試驗方法:将(jiāng)手機進行電性(xing)能參數測試後(hou)處于開機狀㊙️态(tai)放置在 -10 ° C 的低溫試驗(yan)箱内 1 小時(shi)後取出,進行 1.2 米的 6 個(gè)面跌落, 2 個(ge)循環,要求 3 分鍾内完成跌(die)落,方法同常溫(wēn)跌落。
  檢驗(yan)标準:手機外觀(guan),結構,功能和電(dian)性能參數符合(he)要求🌂。
 
1.5.2. 扭曲(qǔ)測試 (Twist Test)
  測試(shi)環境:室溫 (20~25 ° C);
  樣機數量(liang) : 2
  測(ce)試目的:抗扭曲(qu)測試
  試驗(yàn)方法:将手機處(chu)于開機狀态,固(gu)定在扭曲試驗(yàn)機上,用🚶 2N m 力(li)矩反複扭曲手(shǒu)機 1000 次。對于(yu)滑蓋手機,應将(jiang)一半樣品滑開(kai)到上限位置。
  檢驗标準:手(shǒu)機沒有變形 , 外觀無異常(chang),各項功能正常(chang)。
 
1.5.3. 坐壓測試(shì) (Squeeze Test)
  測試環境(jìng):室溫 (20~25 ° C);
  樣機數量 : 2
  測試目(mù)的:抗坐壓測試(shì)
  試驗方法(fǎ):将手機處于開(kāi)機狀态,放置在(zai)坐壓試驗機上(shàng),用 45Kg 力反複(fu)擠壓手機 1000 次。 對于滑(huá)蓋手機,應将一(yi)半樣品滑開到(dào)上限位置。
  檢驗标準:手機(jī)沒有變形 , 外觀無異常,各(ge)項功能正常。
 
1.5.4. 鋼球跌落測(cè)試 (Ball Drop Test)
  測試環(huan)境:室溫 (20~25 ° C);100g 鋼球。
  樣(yang)機數量 : 2 台(tai)
  測試目的(de):鏡蓋強度測試(shi)
  試驗方法(fa):鏡蓋表面:用 100g 鋼球,從 20cm 高處,以初速度(dù)爲 0 的狀态(tai),垂直打擊鏡蓋(gai)表面。
  檢驗(yan)标準:手機鏡蓋(gai)無變形,無裂縫(féng),無破損 ( 允(yǔn)許有白點 ) LCD 功能正常(chang)。
 
1.6 其他條件(jiàn)測試
  樣品(pǐn)标準數量: 5 台。
  測試周(zhou)期: 1 天。
  測試流程 :
  測試标準:
 
1.6.1 螺釘的測試 (Screw Test)
  測試環境:室(shì)溫 (20~25 ° C);
  樣(yang)機數量 : 3 台(tai)
  測試目的(de):螺釘拆裝疲勞(lao)測試
  試驗(yan)方法:将手機平(ping)放在試驗台上(shang)用允許的最大(da)扭🍓矩 ( 由設(shè)計工程師和生(sheng)産工程師提供(gong) ), 對同一螺(luó)釘在同一位置(zhi)反複旋動螺釘(dìng) 10 .
  檢(jian)驗标準:試驗中(zhong)和完成後 , 螺紋沒有變形(xíng) , 損壞 , 滑絲 , 用肉(ròu)眼觀察沒有裂(liè)紋 ; INSERT 不能有(yǒu)明顯的松動 , 劃絲 ; 螺(luo)釘口 ( 包括(kuò)機械和自攻螺(luo)釘 ) 不能有(you)明顯的松動 , 劃絲
 
1.6.2 挂(guà)繩孔強度的測(ce)試 (Hand StrapTest)
  測試環(huan)境:室溫 (20~25 ° C);
  樣機數量 : 2
  測試(shi)目的:挂繩孔結(jié)構強度測試
  試驗方法:将(jiāng)挂繩穿過挂繩(sheng)孔并以 2 圈(quan) / 秒的速率(lǜ)在垂直的平面(miàn)内轉動 100 圈(quān) ,
  然後用拉(lā)力計以持續不(bu)斷的力拉手機(jī)的挂繩 .
  檢(jiǎn)驗标準:手機的(de)挂繩能容易的(de)穿過挂繩孔 ( 不借助于特(tè)殊的工具 ); 轉動手機時 , 挂繩 孔(kǒng)不能被損壞 ; 挂繩孔的破(po)壞力不能小于(yú) 12kgf(111N)

  可靠性是(shì)指産品在規定(ding)的條件下、在規(gui)定的時間内🔱完(wan)成規定🚶的功能(neng)的能力。産品在(zai)設計、應用過程(cheng)🤩中,不斷經受自(zi)💋身及外界氣候(hou)環境及機械環(huan)境的🔞影響,而仍(réng)需要能夠正常(cháng)工作💯,這就需✏️要(yao)以試驗設備對(dui)其進行驗證,這(zhe)個驗證基本分(fen)爲研發試驗、試(shi)産試驗、量産抽(chōu)檢三個部分。

1 、其中氣候環(huán)境包含:高溫、低(dī)溫、高低溫交變(bian)、高溫高濕、低溫(wēn)低濕、快速溫度(du)變化、溫度沖擊(jī)、高壓蒸煮 (HAST) 、溫升測試、鹽霧(wu)腐蝕 ( 中性(xìng)鹽霧、銅加速乙(yi)酸、交變鹽霧 ) 、人工汗液、氣(qi)體腐蝕 (SO2/H2S/HO2/CL2) 、耐(nai)焊接熱,沾錫性(xìng),防塵等級測試(shì) (IP1X-6X) ,防水等級(ji)測試 (IPX1-X8) 、阻燃(ran)測試, UV 老化(hua) ( 熒光紫外(wài)燈 ) 、太陽輻(fu)射 ( 氙燈老(lǎo)化、鹵素燈 ) 等等 ;

2 、其中(zhōng)機械環境包含(han):振動 ( 随機(ji)振動,正弦振動(dòng) ) 、機械沖擊(ji)、機械碰撞、跌落(luò)、斜面沖擊,溫濕(shī)度 振動三(sān)綜合、高加速壽(shou)命測試 (HALT) 、高(gao)加速應力篩選(xuan) (HASS HASA) 、插拔(bá)力,保持力,插拔(ba)壽命,按鍵壽命(ming)測試、搖擺試驗(yan)、耐磨測試、附着(zhe)力測試、百格測(cè)試等。

总 公 司急 速 版WAP 站H5 版无线端AI 智能3G 站4G 站5G 站6G 站
 
· 
·